G5000系列全自动芯片ESD测试设备

日本Hanwa-HED-G5000全自动HBM/MM/Latch-up测试机、HANWA ESD测试机

全自动芯片ESD测试设备产品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自动静电破坏检测机已上市，搭载多Pin脚无继电器的GND模组（Z高支持MAX2048pin），全不受寄生电容的影响，实现高精度检测。此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 （满足JEITA / ESDA / JEDEC规格）可用于闩锁测试，并适用脉冲电 流法·电源过电压·ESD脉冲印加法。汽车电子AEC-Q100标准，车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试。

技术优势：

1、适应以下国际标准波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、该系统特别的短路放电电路可通过其原始机械设计实现。
3、短路Z大限度地减少电感和电容对数据的影响。
4、使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性。

全自动芯片ESD测试设备主要应用：

芯片静电破坏自动测定装置。