Enlitech光感测器量子效率测量仪公司

光感测器量子效率测量仪介绍

随着5G与移动设备的兴起与普及，越来越多新型光传感器被应用于我们的日常生活中，为了能更好的应用在行动装置上，这些光传感器的组件感光面积越做越小。但这些应用却对光传感器的光感测性能要求却越来越高，在感光面积微缩的过程中，也带来量子效率精准测量的挑战；例如，传统聚光型小光斑在不同波长下，色散差造成焦点位移可到mm等级。难以将所有的光子都聚焦到微米等级的感光面积中。因此，难以准确测得全光谱量子效率曲线。

APD-QE 光感测器量子效率测量仪采用光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的”Irradiance Mode”测试方式，与各种探针台形成完整的微米级光传感器全光谱量子效率测试解决方案。APD-QE已被应用于多种光传感器的测试中，例如在iPhone光达与其多种光传感器、Apple Watch血氧光传感器、TFT影像传感器、有源主动像素传感器(APS)、高灵敏度间接转换X射线传感器等。