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产品详情
GP300探针台12英寸手动探针台
GP300探针台产品数据：
机台可轻松实现DC ~ THZ测量。
提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。
优异的三轴设计，保证I-V测试漏电精度达到fa等级。
多孔吸附式载物台设计，更好地兼容薄晶圆固定。
高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统，可直观了解扎针情况，提高扎针的准确性和效率。
可升级的高低温系统，为芯片提供更加成熟稳定的老化测试环境。
紧凑且可靠的机械设计，更适用于芯片的测试及建模系统升级。
能够根据未来需求，可提供多种升级模块，轻松实现探针台功能升级。
短轴式拉杆设计，将更加符合新一代芯片系统测试的需求。拉杆在任意位置可停留、极限位置能快速锁定、分离位可固定，将进一步防止误操作，提高测试效率，节省成本。
温控系统局部细节图--高温低漏电载物台
搭载直流和射频探针座实物照片
搭载思仪太赫兹系统实物
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