产品详情
日本Hanwa-HED-G5000全自动HBM/MM/Latch-up测试机、HANWA ESD测试机
全自动芯片ESD测试设备产品概要:
HANWA新一代G5000系列ESD 全自动静电破坏检测机已上市,搭载多Pin脚无继电器的GND模组(Z高支持MAX2048pin),全不受寄生电容的影响,实现高精度检测。此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 (满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可用于闩锁测试,并适用脉冲电 流法·电源过电压·ESD脉冲印加法。汽车电子AEC-Q100标准,车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试。
技术优势:
1、适应以下国际标准波形: JEDEC,ESDA,AEC和JEITA。
2、该系统特别的短路放电电路可通过其原始机械设计实现。
3、短路Z大限度地减少电感和电容对数据的影响。
4、使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性。
全自动芯片ESD测试设备主要应用:
芯片静电破坏自动测定装置。